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成膜工艺 > CVD设备
【SAMCO】ALD原子层沉积

原子层沉积(ALD)是一种薄膜生长技术,能够为电子器件(电源和射频)沉积无针孔和均匀的绝缘体薄膜。ALD在高长宽比沟槽和通孔结构上提供了优异的保形性,在角级的厚度控制,以及基于连续、自限性反应的可调整薄膜成分。Samco提供高度灵活的开放式热ALD系统AL-1和负载锁定等离子体增强ALD系统AD-230LP。

型号AD-230LPAL-1
外形1651658687283622.png1651658716502654.png
概要

AD-230LP是一种原子层沉积(ALD)系统,能够在原子水平上控制薄膜厚度。有机金属原料和氧化剂交替供给反应室,仅通过表面反应进行薄膜沉积。该系统具有负载锁定室,且不向大气开放反应室,因此能够实现薄膜沉积的优良再现性。

AL-1通过交替向反应室提供有机金属原料和氧化剂,仅利用表面反应沉积薄膜,实现了高膜厚控制和良好的步骤覆盖率。薄膜的厚度可以控制在原子层的数量级。此外,可以在高宽比的孔内壁上沉积覆盖性好、厚度均匀的薄膜。可同时沉积3片ø4英寸的晶片。

特点

可以在原子层水平上实现均匀的层控制。

可实现高纵横比结构的共形沉积。

具有优良的平面内均匀性和再现性,实现了稳定的工艺。

采用独特的反应室结构,优化了原料的气路和气体流,抑制了粒子。

通过采用电容耦合等离子体(CCP)系统,使反应室体积最小化,缩短了气体吹扫时间,加快了一个循环的速度。

成膜效率高

通过提供几十毫秒量级的脉冲,减少了原材料的损耗,提高了沉积效率。

真空清洁,温度不均匀性小

通过紧贴反应室内壁的内壁加热器,抑制反应室的温度不均匀,可获得清洁的真空。

无针孔成膜

由于多种前驱体在反应室中没有混合,因此可以防止颗粒,形成无针孔的薄膜。

应用

氮化膜(AlN、SiN)的形成和低温形成的氧化膜(AlOx、SiO2)。

电子设备的闸门绝缘子

半导体、有机EL等的钝化膜。

半导体激光器的反射面

在MEMS等3D结构上的沉积

石墨烯上的沉积

碳纳米管保护膜粉末涂层

用于下一代功率器件的栅极氧化膜和钝化膜。

在3D结构上形成均匀的薄膜,如MEMS。

激光表面的沉积

碳纳米管的钝化膜


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